Altair ed LG Electronics: meno di 24 per i drop-test

Altair ha annunciato un nuovo passo in avanti dell’industria elettronica, che garantirà una notevole accelerazione nello sviluppo dei nuovi smartphone, tablet, elettrodomestici ed elettronica di consumo, permettendo agli ingegneri di creare un sempre più ampio range di design maggiormente durevoli

Lavorando fianco a fianco, Altair e l’azienda coreana LG Electronics (LGE) hanno messo a punto un sistema automatizzato di simulazione per i drop-test, che permetterà agli ingegneri della LGE di realizzare simulazioni di drop-test in meno di 24 ore. Tale procedura è cruciale per le aziende produttrici di smartphone, che richiede normalmente una o due settimane di lavoro.

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Utilizzando la suite di strumenti per la computer-aided engineering HyperWorks di Altair, inclusi HyperMesh per le fasi di pre-processo, il solutore RADIOSS, il post-processore HyperView insieme alla sua struttura di automazione integrata, il team composto da Altair e LGE è riuscito ad automatizzare molte delle lunghissime procedure manuali associate alla modellazione FEA e al settaggio delle analisi e conseguente post-processo, necessarie per ottenere le simulazioni dei test di caduta.

“La collaborazione tra Altair ed LGE sull’automazione dei sistemi di simulazione per i drop-test aiuterà LGE ad essere maggiormente competitiva e poter introdurre sul mercato una sempre maggiore varietà di prodotti robusti in tempi rapidi,” ha affermato Molly Heskitt, Senior Director of Global Electronics and Consumer Goods ad Altair. “Questa automazione soddisfa la principale competizione dell’industria elettronica: Time to Market, innovazione e costi. Riduce i tempi ed i costi di sviluppo del prodotto, oltre a quelli relativi alla garanzia, lasciando maggior tempo per il design e consentendo di ottenere un telefono notevolmente più immune da guasti per caduta.”

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Gli ingegneri posso utilizzare il tempo risparmiato grazie al sistema di automazione nella simulazione per i drop-test per esplorare maggiori interazioni nel design dei device così da sviluppare versioni sempre più solide e innovative. LGE ha adottato questo sistema di automazione dei drop-test in tutta la sua produzione attuale di smartphone e lo utilizzerà per tutti i progetti futuri, integrando anche lo strumento software OptiStruct di Altair per ottimizzare il design dei telefoni riducendo i costi ed aumentando l’affidabilità.

Grazie all’abilità di poter accedere e testare rapidamente più scenari di impatto, LGE prevede una notevole riduzione dei costi connessi alla garanzia, visto che gli smartphone ottimizzati risulteranno maggiormente resistenti ai danni da caduta.

“Una delle più grandi sfide nell’industria degli smartphone è il Time to Market,” ha dichiarato Y.H Lee, Ricercatore alla LGE, “in questi cicli di sviluppo di prodotto così altamente competitivi molte aziende non riescono a dedicare tutto il tempo che vorrebbero allo studio dei diversi design. Lo standard di 7-14 giorni per i drop-test è davvero troppo lungo. Grazie ad Altair siamo ora in grado di ridurre i tempi richiesti per le simulazioni dei drop-test da una settimana a poche ore.”

Altair è certa che questo processo di simulazione automatizzato per i drop-test sia in grado di produrre risultati simili per i design di qualsiasi altro tipo di elettronica di consumo.